760CRT型雙光束紫外可見分光光度計是引進吸收日本島津公司先進技術基礎上推出的自動記錄分光光度計，軟件基於(yu) Windows7平台，界麵友好、美觀，操作簡單，通過打印機可打印出圖文合一的分析報告，並可將圖譜數據或測試數據傳(chuan) 送Execl進行處理，可將圖譜貼至Word中發表，儀(yi) 器具有波長掃描、時間掃描、定量分析、定波長測試、多波長測試等功能，優(you) 異的性能，適合用於(yu) 醫藥、藥學、生物化學、環境保護、化學工業(ye) 等實驗室的日常分析和研究工作的需要。

主要特點：

● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結構，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩定性能好。

● 微機控製，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數據及操作參數。

● 光源自動轉換（可在294nm～364nm間任意設定）

● 功能極強的光譜處理能力。

軟件特點：

● 信息存貯容量大，保存方便。

● 軟件提供四個(ge) 圖譜通道臨(lin) 時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕鬆地相互轉換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和係數的四則運算、導數運算。

● 圖譜的峰穀檢測、縮放輕鬆自如。

● 時間掃描可進行動力學研究。

● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定係數法和係數輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定。

● 軟件提供了定波長和多波長測試，並可對測試數據進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個(ge) 點波長的測試。

● 可輕鬆地將貯存圖譜的參數設置為(wei) 儀(yi) 器當前測試條件。

● 打印機可進行參數與(yu) 圖譜打印、參數與(yu) 圖譜及數據打印、參數與(yu) 數據打印和工作曲線的打印。

技術指標：

● 測光方式：雙光束C-T式光路結構，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。

● 波長範圍：190nm～900nm

● 分辨率：優(you) 於(yu) 0.15nm

● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續可調

● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內(nei) 裝自動波長校正裝置）

● 波長重複性：0.2nm

● 雜散光：≤0.08%（T）（在220nm處以NaI測定，在360nm處以NaINO₂測定）

● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）

● 透射比重複性：0.2%（T）

● 基線平直度：±0.002（A）

● 掃描速度：快、中、慢

● 穩定性：≤±0.004（A/30min）

● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）

其他：

●   電源電壓：AC220V±22V  50Hz±1Hz