紫外可見分光光度計分析誤差如何避免

一、雜散光的重要性

雜散光是紫外可見分光光度計非常重要的關(guan) 鍵技術指標。它是紫外可見分光光度計分析誤差的主要來源, 它直接限製被分析測試樣品濃度的上限。當一台紫外可見分光光度計的雜散光一定時, 被分析的試樣濃度越大, 其分析誤差就越大。astm 認為(wei) : “雜散光可能是光譜測量中主要誤差的來源。尤其對高濃度的分析測試時, 雜散光更加重要”。有文獻報道, 在紫外可見光區的吸收光譜分析中, 若儀(yi) 器有1%的雜散光, 則對2. 0a 的樣品測試時, 會(hui) 引起2%的分析誤差時, 說明儀(yi) 器中有這種雜散光存在。但必須注意, 當儀(yi) 器存在零點誤差時, 有可能造成混淆。如果在不透明的樣品上塗上白色, 則可增加樣品本身反射和散射的效果, 可以提高測量靈敏度。第二種形式是指測試波長以外的、偏離正常光路而到達光電轉換器的光線。它通常是由光學係統的某些缺陷所引起的。如光學元件的表麵被擦傷(shang) 、儀(yi) 器的光學係統設計不好、機械零部件加工不良, 使光路位置錯移等。

雜散光對分析測試結果的誤差影響是隨著吸光度值增大而增大的。因此,吸光度值越大, 對誤差的影響也越大。

二、雜散光的來源

產(chan) 生雜散光的原因很多, 其最主要的原因大致有以下9 個(ge) 方麵:

① 灰塵沾汙光學元件( 如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等)。

② 光學元件被損傷(shang) , 或光學元件產(chan) 生的其他缺陷( 如光柵、透鏡、反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等)。

③ 準直係統內(nei) 部或有關(guan) 隔板邊緣的反射。

④ 光學係統屏蔽不好。

⑤ 熱輻射或熒光引起的二次電子發射。

⑥ 狹縫的缺陷。

⑦ 光束孔徑不匹配。

⑧ 光學係統的像差。

⑨ 單色器內(nei) 壁黑化處理不當。

以上9 個(ge) 方麵中, 光柵是雜散光的主要來源。它產(chan) 生的雜散光占總雜散光的80%以上。

三、雜散光的測試方法

目前, 測試雜散光常用的方法是所謂“ 截止濾光法” ( t he cut off filtermethod) 或稱作“ 濾光片法” ( the filte r method) 。主要是采用濾光片或濾光液來測試紫外可見分光光度計的雜散光。有時也采用he-ne 激光器的632. 8nm 來測試雜散光。具體(ti) 做法是在離632. 8nm±5nm 處進行測試, 測出的數值與(yu) 632. 8nm 相比就是雜散光。“截止濾光法” 的具體(ti) 測試方法: 儀(yi) 器冷態開機, 預熱0. 5h , 如用“濾光片法” 測試, 則參比為(wei) 空氣; 如用濾光液來測試, 則參比為(wei) 溶劑(若用nai、nano2 水溶液, 則參比為(wei) 蒸餾水)。設置儀(yi) 器的縱坐標為(wei) % t , 橫坐標為(wei) 波長 nm) , 用濾光液時, 試樣比色皿中裝濾光液, 參比比色皿中裝溶解液, 將波長調到相應的波長上( nai 為(wei) 220nm、nano2 為(wei) 340nm) 進行測試。